設(shè)備:超聲波掃描顯微鏡SONIX ECHO-LS
廠商:SONIX
用途:無(wú)損檢測(cè)電子元器件、金屬基板的分層、裂紋等缺陷(裂紋、分層、空洞等);通過(guò)圖像對(duì)比度判別材料內(nèi)部聲阻抗差異、確定缺陷形狀和尺寸、確定缺陷方位。
測(cè)試標(biāo)準(zhǔn):《IPC/JEDEC J-STD-035 非氣密性封裝元件的聲學(xué)顯微鏡檢查方法》、 《IPC/JEDEC J-STD-020 非密閉式固態(tài)表面安裝組件的濕度/回焊敏感性分類》、《IPC/JEDEC J-STF-020 塑料集成電路SMD的潮濕/回流敏感性分類》
技術(shù)指標(biāo):
l 頻率范圍:(1~500)MHz
l 空間分辨率: 0.1μm
l 掃描面積達(dá)到:0.25~300mm
l 各種掃描模式:
l 超聲波傳輸時(shí)間測(cè)量(A掃描)
l 縱向截面成像(B掃描)、
l X/Y二維成像(C、D、G、X掃描)
l 三維掃描與成像。
l T-掃描方式:檢測(cè)透射信號(hào)
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